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2018年第4号中国国家标准公告

中华人民共和国国家标准

公告

2018年第4号

关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告

国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准,现予以公布(见附件)。

国家质检总局 国家标准委

2018-03-15

序号标准编号标准名称代替标准号实施日期
1GB/T 4377-2018半导体集成电路 电压调整器测试方法GB/T 4377-19962018-08-01
2GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法GB/T 14028-19922018-08-01
3GB/T 35001-2018微波电路 噪声源测试方法
2018-08-01
4GB/T 35002-2018微波电路 频率源测试方法
2018-08-01
5GB/T 35003-2018非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
2018-08-01
6GB/T 35004-2018数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
2018-08-01
7GB/T 35005-2018集成电路倒装焊试验方法
2018-08-01
8GB/T 35006-2018半导体集成电路 电平转换器测试方法
2018-08-01
9GB/T 35007-2018半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
2018-08-01
10GB/T 35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范
2018-08-01
11GB/T 35009-2018串行NAND型快闪存储器接口规范
2018-08-01
12GB/T 35010.1-2018半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
2018-08-01
13GB/T 35010.2-2018半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
2018-08-01
14GB/T 35010.3-2018半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
2018-08-01
15GB/T 35010.4-2018半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
2018-08-01
16GB/T 35010.5-2018半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
2018-08-01
17GB/T 35010.6-2018半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
2018-08-01
18GB/T 35010.7-2018半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
2018-08-01
19GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
2018-08-01
20GB/T 35011-2018微波电路 压控振荡器测试方法
2018-08-01